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自動光學檢查系統 (AOI)

簡要描述:v全自動AOI系統可獲取目標表面高分辨率圖像,并根據用戶標準執行光學檢測

基礎信息

產品型號

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更新時間

2024-10-22

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詳細介紹

v 全自動AOI系統可獲取目標表面高分辨率圖像,并根據用戶標準執行光學檢測。例如,激光二極管的端面檢查,鍍膜的質量監控,表面檢查,半導體芯片的頂部/底部/側壁檢查,以及晶片分揀

v 對于所有的ficonTEC系統,模塊化的方式使得為監測平臺提供附加功能成為可能自動托盤處理,不同的進料模式,測試功能(例如 LIV),芯片頂部/底部檢查,以及實時標記等

v 主要功能:芯片側壁檢查、晶片分揀、裂紋識別、Break-out 檢測、裂紋擴展預測、粒子識別、灰塵和纖維識別、詳細的組件/亞批次/批次跟蹤、單獨錯誤種類處理


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